Категории

Главная > Книги>Справочная литература>Технические науки. Транспорт>Радиоэлектроника, радиотехника, связь>Радиоэлектроника>Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем

Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем

  • Автор: Куликов Игорь Валентинович

  • Переплет: мягкий
  • Страниц: 172
  • Формат: 24x17x1 см
  • Вес: 284 г
  • ISBN: 9785732511154
  • Иллюстрации: ч/б иллюстрации
  • Год издания: 2017
  • Язык издания: русский

34150504

Наличие: ОТПРАВКА В ТЕЧЕНИЕ 9-13 РАБОЧИХ ДНЕЙ

456 Kč

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие 'электронного функционала' и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.